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          MCU-HiL 硬件在環

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          MCU硬件在環(HiL)仿真測試系統

          電機控制器開發涉及高電壓、大電流,直接進行電機臺架試驗有較大風險,對算法成熟度要求較高,意昂神州提供的電機HiL硬件在環仿真測試的目的是以最低的成本執行比較困難的測試和使用物理原型風險太大的測試。
          MCU硬件在環(HiL)仿真測試系統組成

                                              MCU硬件在環(HiL)仿真測試系統組成


          主要功能


          • 專注電機控制器功能測試,為電機臺架的功能及性能測試打下基礎

          • 控制器故障注入及分析在電機控制器設計前期階段即可發現問題,而無需等到在物理原型上才發現

          • 執行在各種極限條件下測試

          • 控制算法在線分析,跟蹤調試

          • 開發中的測試故障復現

          • 可以實現軟硬件并行開發,縮短開發周期

          • 在測試系統建立之前,在實驗室環境下完成初始化標定

          • 可降低開發測試成本

          • 可進行重復的自動化測試


          MCU硬件在環(HiL)仿真測試系統 


          技術先進性


          • PMSM、SRM 和逆變器模型實現高性能仿真

          • 高保真仿真可支持基于FEA 的JMAG-RT 模型及ANSOFT模型

          • 開放式軟件提供充分的靈活性和定制化

          • LabVIEW 項目模板用于構建軟件仿真應用和硬件在環應用

          • 直接集成NI VeriStand,用于基于配置的實時測試

          • 桌面仿真模型、LabVIEW Real-Time 仿真模型和基于FPGA 的仿真模型

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